Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Sauter TE 1250-0.1F Schichtdicken-Messgerät 0 - 1250 µm

Digitales Schichtdickenmessgerät TE 1250-0.1F.

F-Version für ferromagnetische Oberflächen
Ergonomisches Design und externer Messkopf für höchsten Bedienkomfort

- Externer Messkopf zum leichteren Erreichen schwer zugänglicher Messpunkte - Messköpfe mit anderen Messbereichen sind auf Anfrage erhältlich - Datenschnittstelle RS-232, inklusive - Nullplatte und Justierfolien inklusive - Lieferung im robusten Tragekoffer - Offset-Accur: Mit dieser Funktion kann das Messgerät durch eine Zweipunktkalibrierung genau auf den konkreten Messbereich eingestellt werden, um so eine höhere Präzision von 1 % (oder weniger) des Messwertes zu erreichen - Wählbare Einheiten: µm, inch (mil) - Auto-Power-Off

Technische Daten:
Anzeige (Messgeräte): LCD · Auflösung (Messgerät): 0.1 µm · Genauigkeit: 3 % · Gewicht: 750 g · Messart: eisenhaltige Substrate · Messbereich (max.): 1250 µm · Messbereich (min.): 0 µm · Messmethode: Ultraschall · Produktabmessung, Breite: 210 mm · Produktabmessung, Höhe: 53 mm · Produktabmessung, Länge: 250 mm · Zifferhöhe (Details): 10 mm · kalibriert: Werksstandard (ohne Zertifikat)

Lieferumfang:
Tragekoffer · Bedienungsanleitung · F- Messkopf (Eisen) · Distanzfolien · Nullplatte (Eisen) · Batterien.